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二极管的加速寿命试验

发布日期:2014-12-15 15:55:03

加速寿命试验是指采用加大应力的方法促使样品在短期内失效,以预测在正常工作条件或储存条件下的可靠性,但不改变受试样品的失效分布。
通过加速寿命试验可达到以下目的:
(1)、在较短时间里,对高可靠元器件的可靠性水平进行评估,可用外推法快速预测在规定条件下的失效率;
(2)、在较短时间内,对元器件可靠性设计、工艺改进和可靠性增长的效果进行评估;
(3)、在较短时间内,加速暴露元器件失效模式和机理,从而可正确地制定失效判据和筛选条件。
必须指出,元器件的电气规格参数指标与其性能稳定可靠是不同的概念,两者之间并没有直接的联系。规格参数良好的元器件,它的可靠性不一定高;相反,规格参数差一些的元器件,其可靠性也不一定低。电子元器件的大部分规格参数都可以通过仪表立即测量出来,但是它们的可靠性和稳定性却必须通过各种可靠性试验,或者大量(或长期)的使用之后才能判断出来。
电子元器件的失效率数据,可以通过对它的可靠性试验求得:
         λ=失效率=失效数÷(试验器件的总数×运用时间)
失效率的常用单位是Fit(1Fit=10-9/h),一百万个元器件运用1000h有1个失效,就叫做1Fit。失效率越低,说明元器件的可靠性越高。